低電壓雷擊浪涌測(cè)試系統(tǒng)

• >測(cè)試量級(jí)：

  1.2/50-8/20us組合波

  開(kāi)路電壓：5~660V±10%

  輸出阻抗：2Ω、12Ω

• >適用標(biāo)準(zhǔn)：

  IEC 61000-4-5

  GB/T 17626.5

• >應(yīng)用：

  用于模擬由于熱插拔和EOS引起的浪涌沖擊抗干擾測(cè)試，適用于消費(fèi)電子和通訊等領(lǐng)域的浪涌測(cè)試需求。

• >測(cè)試量級(jí)：

  >10/700μs-5/320μs組合波

  輸出開(kāi)路：6KV±10%

  輸出短路：150A±10%

  輸出虛擬內(nèi)阻：40Ω

  
  

• >適用標(biāo)準(zhǔn)：

  IEC 61000-4-5
  

  GB/T 17626.5

  
  

• >應(yīng)用：

  用于模擬由于雷電瞬變引起的浪涌沖擊抗干擾測(cè)試，適用于通訊、電源、安防、醫(yī)療、工業(yè)、消費(fèi)電子等領(lǐng)域的浪涌測(cè)試需求。